Excimère de silice fondue synthétique de substrat calé 30 mm de diamètre 1 degré Wedge λ/10

WSSQK-30C05-10-1

Les substrats en coin peuvent séparer le faisceau réfléchi par la surface avant et arrière des substrats grâce à un léger angle de coin. Ils peuvent être utilisés comme plaques de test de référence pour les interféromètres et les échantillonneurs de faisceau.
◦Il peut également être utilisé comme prisme pour réfracter sous un petit angle. L'angle de déviation de faisceau δ peut être l'indice de réfraction calculé n, à partir de l'angle de coin α.
δ = sin−1( n sinα) − α ≒( n − 1) α
◦Dans BK7, 0,52 fois l'angle du biseau, et dans la silice fondue synthétique, 0,46 fois l'angle du coin. (Portée visible, incidence normale)
Plus d’information
Nom Excimère de silice fondue synthétique de substrat calé 30 mm de diamètre 1 degré Wedge λ/10
Poids 0.0080kgs
Standard Coatings Available Non
Guide
  • Une marque en forme de flèche sur le côté le plus épais de la bordure indique la surface avant du substrat.
  • Il est également disponible un échantillonneur de faisceau (BS4) revêtu d'un revêtement antireflet à l'arrière.
  • WEB Référence du catalogue/W3025
  • Il est également possible de fabriquer des substrats en forme de coin avec un revêtement demandé.
Remark -
Attention
  • Les substrats à coin ne sont pas revêtus des deux côtés. Il y a une réflexion de 3,5 à 4 % de la surface du verre.
  • Si le substrat à coin est inséré dans le trajet optique du faisceau laser, le faisceau transmis est légèrement incliné, ce qui provoque la réfraction.
Image Label Wedged Substrate Synthetic Fused Silica Excimer 30mm Diameter 1 Degree Wedge λ/10
Diameter φD 30mm
Material Synthetic fused silica for excimer laser
Matériau Silice fondue synthétique pour laser excimer
Diamètre φD φ30mm
Épaisseur t 5mm
Surface Planéité λ/10
Angle de biseau 1°±5′
Qualité de surface (Rayures-Défauts) 20−10
En stock
SKU
WSSQK-30C05-10-1
190,90 €

Delivery in : 6-12 weeks

Les substrats en coin peuvent séparer le faisceau réfléchi par la surface avant et arrière des substrats grâce à un léger angle de coin. Ils peuvent être utilisés comme plaques de test de référence pour les interféromètres et les échantillonneurs de faisceau.

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