Substrat calé en silice fondue synthétique diamètre 50 mm cale 2 degrés λ/10
WSSQ-50C08-10-2
Les substrats en coin peuvent séparer le faisceau réfléchi par la surface avant et arrière des substrats grâce à un léger angle de coin. Ils peuvent être utilisés comme plaques de test de référence pour les interféromètres et les échantillonneurs de faisceau.
◦Il peut également être utilisé comme prisme pour réfracter sous un petit angle. L'angle de déviation de faisceau δ peut être l'indice de réfraction calculé n, à partir de l'angle de coin α.
δ = sin−1( n sinα) − α ≒( n − 1) α
◦Dans BK7, 0,52 fois l'angle du biseau, et dans la silice fondue synthétique, 0,46 fois l'angle du coin. (Portée visible, incidence normale)
δ = sin−1( n sinα) − α ≒( n − 1) α
◦Dans BK7, 0,52 fois l'angle du biseau, et dans la silice fondue synthétique, 0,46 fois l'angle du coin. (Portée visible, incidence normale)
Nom | Substrat calé en silice fondue synthétique diamètre 50 mm cale 2 degrés λ/10 |
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Poids | 0.0350kgs |
Standard Coatings Available | Non |
Guide |
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Remark | - |
Attention |
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Image Label | Wedged Substrate Synthetic Fused Silica 50mm Diameter 2 Degree Wedge λ/10 |
Diameter φD | 50mm |
Material | Synthetic fused silica |
Matériel | Silice fondue synthétique |
Diamètre φD | φ50mm |
Épaisseur t | 8mm |
Planéité de surface | λ/10 |
Angle de coin | 2°±5′ |
Qualité de surface (Rayures-Défauts) | 20−10 |
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SKU
WSSQ-50C08-10-2
356,40 €
Les substrats en coin peuvent séparer le faisceau réfléchi par la surface avant et arrière des substrats grâce à un léger angle de coin. Ils peuvent être utilisés comme plaques de test de référence pour les interféromètres et les échantillonneurs de faisceau.