Fenêtre optique BK7 Diamètre 20 mm Revêtement anti-reflet 750 - 1550 nm
WBMA-20C02-10-IR2
Ces fenêtres optiques de haute qualité peuvent être utilisées lorsque la lumière est transmise à travers le côté opposé de la partition ou dans la chambre à vide. Grâce à leurs revêtements antireflets, la transmittance est augmentée, ce qui les rend adaptées en tant que fenêtres pour l'irradiation laser et l'observation de l'échantillon.
◦Par un revêtement anti-reflet avec une multicouche diélectrique, il est réduit à moins de 1 % à 4 % de perte de réflexion de la surface du verre.
◦ Puisque nous utilisons un matériau de haute qualité, l'image ne sera pas déformée par la transmission du verre, et le faisceau laser n'est pas diffusé.
◦Lorsque vous insérez une fenêtre perpendiculaire au chemin optique du laser, l'angle du faisceau transmis ne sera pas modifié.
◦ Puisque nous utilisons un matériau de haute qualité, l'image ne sera pas déformée par la transmission du verre, et le faisceau laser n'est pas diffusé.
◦Lorsque vous insérez une fenêtre perpendiculaire au chemin optique du laser, l'angle du faisceau transmis ne sera pas modifié.
Nom | Fenêtre optique BK7 Diamètre 20 mm Revêtement anti-reflet 750 - 1550 nm |
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Poids | 0.0050kgs |
Standard Coatings Available | Non |
Guide |
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Remark | - |
Attention |
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Image Label | Optical Window BK7 20mm Diameter Anti-reflection Coated 750 - 1550nm |
Diameter φD | 20mm |
Matériau | BK7 |
Planéité de surface | λ/10 |
Parallélisme | <5″ |
Revêtement | Revêtement multicouche diélectrique |
Angle incident | 0 ° |
Seuil de dommage laser | 4J/cm2< /sup> |
Qualité de surface <br> (Rayures-Défauts) | 40-20 |
Plage de longueurs d'onde | 750 - 1550nm |
Diamètre φD | φ20mm |
Épaisseur t |
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SKU
WBMA-20C02-10-IR2
67,90 €
Ces fenêtres optiques de haute qualité peuvent être utilisées lorsque la lumière est transmise à travers le côté opposé de la partition ou dans la chambre à vide. Grâce à leurs revêtements antireflets, la transmittance est augmentée, ce qui les rend adaptées en tant que fenêtres pour l'irradiation laser et l'observation de l'échantillon.