Verkeiltes Substrat Quarzglas 40mm Durchmesser 1 Keilwinkel λ/20
WSSQ-40C06-20-1
Verkeilte Substrate können den reflektierten Strahl durch den leichten Keilwinkel von der Vorder- und Rückseite der Substrate trennen. Sie können als Referenzprüfplatte für Interferometer und Beam Sampler verwendet werden.
◦Es kann auch als Prisma verwendet werden, um in einem kleinen Winkel zu brechen. Strahlablenkwinkel δ kann aus dem Keilwinkel α der Brechungsindex n berechnet werden.
δ ＝ sin−1（ n sinα） − α ≒（ n − 1） α
◦In BK7 der 0,52-fache Keilwinkel und in synthetischem Quarzglas 0,46 mal den Winkel des Keils. (Sichtbarer Bereich, normaler Einfall)
δ ＝ sin−1（ n sinα） − α ≒（ n − 1） α
◦In BK7 der 0,52-fache Keilwinkel und in synthetischem Quarzglas 0,46 mal den Winkel des Keils. (Sichtbarer Bereich, normaler Einfall)
| Name | Verkeiltes Substrat Quarzglas 40mm Durchmesser 1 Keilwinkel λ/20 |
|---|---|
| Gewicht | 0.0170kgs |
| Standardbeschichtungen verfügbar | Nein |
| Leitfaden |
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| Achtung |
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| Image Label | Wedged Substrate Synthetic Fused Silica 40mm Diameter 1 Degree Wedge λ/20 |
| Durchmesser φD | 40mm |
| Material | Synthetisches Quarzglas |
| Material | Quarzglas |
| Durchmesser φD | φ40mm |
| Dicke t | 6mm |
| Oberflächenebenheit | λ/20 |
| Keilwinkel | 1°±5′ |
| Oberflächenqualität (Scratch-Dig) | 20−10 |
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SKU
WSSQ-40C06-20-1
458,20 €
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Verkeilte Substrate können den reflektierten Strahl durch den leichten Keilwinkel von der Vorder- und Rückseite der Substrate trennen. Sie können als Referenzprüfplatte für Interferometer und Beam Sampler verwendet werden.
