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自動偏光解析システムガイド ガイド
偏光解析システムとは？
偏光状態を測定・解析することで、物質内部の状態や表面形状、光学特性など様々な
項目を分析できます。
シグマ光機の自動偏光解析システムは、標準化された光源・光学素子・ホルダ・ディテクタを組み合わせた光学系とソフトウェアに より、簡易評価システムから専用測定装置まで、多様な測定・評価アプリケーションのご提案が可能です。
自動偏光解析システム
簡単な偏光解析ソフトウェア "SimpleAPAS"レーザ光等の特定波長での消光比や位相差測定に対応するため、お客様の既存の光学系にもアドオンできるソフトウェアです。
主関数- 波の版、検光子の軸線の方向のための自動調節。
- 回転補償システムによる偏波と位相差測定
- セナルモン法による位相差測定
- 各操作のログ測定
紫外線、目に見えるおよびNearinfrared光源の使用に専用されている光学系を伴って分光データ特徴まで支えるのはソフトウェアである。
分光測定、単波長測定、多次位相差測定に対応可能なため、偏光光学の一次評価項目をすべて網羅しています。
- 偏光光軸方向の自動調整
- 回転分析法による偏光測定
- 分光透過率測定
- セナルモン法による位相差測定
- 円偏光コントラスト測定
- ログ測定
- 回転補償器法による偏光測定
- 偏光子透過偏光比測定
偏光測定応用例
