Substrat calé Silice fondue synthétique Diamètre 20 mm Cale 1 degré λ/10

WSSQ-20C05-10-1

Les substrats en coin peuvent séparer le faisceau réfléchi par la surface avant et arrière des substrats grâce à un léger angle de coin. Ils peuvent être utilisés comme plaques de test de référence pour les interféromètres et les échantillonneurs de faisceau.
◦Il peut également être utilisé comme prisme pour réfracter sous un petit angle. L'angle de déviation de faisceau δ peut être l'indice de réfraction calculé n, à partir de l'angle de coin α.
δ = sin−1( n sinα) − α ≒( n − 1) α
◦Dans BK7, 0,52 fois l'angle du biseau, et dans la silice fondue synthétique, 0,46 fois l'angle du coin. (Portée visible, incidence normale)
Plus d’information
Nom Substrat calé Silice fondue synthétique Diamètre 20 mm Cale 1 degré λ/10
Poids 0.0050kgs
Standard Coatings Available Non
Guide
  • Une marque en forme de flèche sur le côté le plus épais de la bordure indique la surface avant du substrat.
  • Il est également disponible un échantillonneur de faisceau (BS4) revêtu d'un revêtement antireflet à l'arrière.
  • WEB Référence du catalogue/W3025
  • Il est également possible de fabriquer des substrats en forme de coin avec un revêtement demandé.
Remark -
Attention
  • Les substrats à coin ne sont pas revêtus des deux côtés. Il y a une réflexion de 3,5 à 4 % de la surface du verre.
  • Si le substrat à coin est inséré dans le trajet optique du faisceau laser, le faisceau transmis est légèrement incliné, ce qui provoque la réfraction.
Image Label Wedged Substrate Synthetic Fused Silica 20mm Diameter 1 Degree Wedge λ/10
Diameter φD 20mm
Material Synthetic fused silica
Matériel Silice fondue synthétique
Diamètre φD φ20mm
Épaisseur t 5mm
Planéité de surface λ/10
Angle de coin 1°±5′
Qualité de surface (Rayures-Défauts) 20−10
En stock
SKU
WSSQ-20C05-10-1
101,80 €

Delivery in : 1 week

Les substrats en coin peuvent séparer le faisceau réfléchi par la surface avant et arrière des substrats grâce à un léger angle de coin. Ils peuvent être utilisés comme plaques de test de référence pour les interféromètres et les échantillonneurs de faisceau.

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