Substrat biseauté BK7 Diamètre 80 mm Angle de biseau 1 degré λ/10
WSB-80C12-10-1
Les substrats en coin peuvent séparer le faisceau réfléchi par la surface avant et arrière des substrats grâce à un léger angle de coin. Ils peuvent être utilisés comme plaques de test de référence pour les interféromètres et les échantillonneurs de faisceau.
◦Il peut également être utilisé comme prisme pour réfracter sous un petit angle. L'angle de déviation de faisceau δ peut être l'indice de réfraction calculé n, à partir de l'angle de coin α.
δ ＝ sin−1（ n sinα） − α ≒（ n − 1） α
◦Dans BK7, 0,52 fois l'angle du biseau, et dans la silice fondue synthétique, 0,46 fois l'angle du coin. (Portée visible, incidence normale)
δ ＝ sin−1（ n sinα） − α ≒（ n − 1） α
◦Dans BK7, 0,52 fois l'angle du biseau, et dans la silice fondue synthétique, 0,46 fois l'angle du coin. (Portée visible, incidence normale)
| Nom | Substrat biseauté BK7 Diamètre 80 mm Angle de biseau 1 degré λ/10 |
|---|---|
| Poids | 0.1530kgs |
| Standard Coatings Available | Non |
| Guide |
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| Remark | - |
| Attention |
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| Image Label | Wedged Substrate BK7 80mm Diameter 1 Degree Wedge Angle λ/10 |
| Diameter φD | 80mm |
| Material | BK7 |
| Matériau | BK7 |
| Diamètre φD | φ80mm |
| Epaisseur t | 12mm |
| Planéité de surface | λ/10 |
| Angle de coin | |
| Qualité de surface (Rayures-Défauts) | 10−5 |
En stock
SKU
WSB-80C12-10-1
305,50 €
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Les substrats en coin peuvent séparer le faisceau réfléchi par la surface avant et arrière des substrats grâce à un léger angle de coin. Ils peuvent être utilisés comme plaques de test de référence pour les interféromètres et les échantillonneurs de faisceau.
